NF X21-008-2006 微光束分析.半导体探测器能量色散X射线分光仪用仪器规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-02 10:46:02 浏览:8625
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【英文标准名称】:Microbeamanalysis-InstrumentalspecificationforenergydispersiveX-rayspectrometerswithsemiconductordetectors.
【原文标准名称】:微光束分析.半导体探测器能量色散X射线分光仪用仪器规范
【标准号】:NFX21-008-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-12-01
【实施或试行日期】:2006-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析方法;定义;电子束;测量仪器;微量分析;半导体探测器;半导体器件;半导体二极管;X射线分光计;X射线光度法
【英文主题词】:Analysismethods;Definition;Definitions;Electronbeams;Measuringinstruments;Microanalysis;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;X-rayspectrometer;X-rayspectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:微光束分析.半导体探测器能量色散X射线分光仪用仪器规范
【标准号】:NFX21-008-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-12-01
【实施或试行日期】:2006-12-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分析方法;定义;电子束;测量仪器;微量分析;半导体探测器;半导体器件;半导体二极管;X射线分光计;X射线光度法
【英文主题词】:Analysismethods;Definition;Definitions;Electronbeams;Measuringinstruments;Microanalysis;Semiconductordetectors;Semiconductordevices;Semiconductordiodes;X-rayspectrometer;X-rayspectrometry
【摘要】:
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:
【页数】:14P.;A4
【正文语种】:其他
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