ASTM F 1049-1995 探测硅片表面浅蚀坑的测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-07 11:43:42 浏览:8065
来源:标准资料网
【英文标准名称】:TestMethodforShallowEtchPitDetectiononSiliconWafers
【原文标准名称】:探测硅片表面浅蚀坑的测试方法
【标准号】:ASTMF1049-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;电子工程;试验
【英文主题词】:testing;silicones;electronicengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:H25
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Butan-1-olforindustrialuse;Methodsoftest;Part1:General
【原文标准名称】:工业用正丁醇试验方法第1部分:总则
【标准号】:ISO755-1-1981
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1981-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;连接;工业产品;丁烷;指南;化合物
【英文主题词】:testing;butane;tests;instructions;industrialproducts;connections
【摘要】:Givesgeneralinstructionsansalsospecifiesthemethodstobeusedforthedeterminationofdensityat20C,thedeterminationofaldehydesandketonescontent,thedeterminationofdestillationyield,thedeterminationofdryresidueafterevaporationonthewaterbath,thedeterminationofbrominenumber,themeasurementofcolourandthedeterminationofwatercontent.InternationalStandardsISO755/1,ISO755/2andISO755/3cancelsandreplaceISORecommendationR755-1968,ofwhichtheyconstituteatechnicalrevision.IthasalsobeenapprovedbytheInternationalUnionofPureandAppliedChemistry(IUPAC).
【中国标准分类号】:G15
【国际标准分类号】:71_080_60
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 水平吊盖带颈对焊法兰人孔 |
中标分类: |
化工 >>
化工机械与设备 >>
化工机械与设备零部件 |
ICS分类: |
医药卫生技术 >>
制药学 >>
有关制药学的其他标准
|
替代情况: | HG 21524-1995 |
发布部门: | 中华人民共和国国家发展和改革委员会 |
发布日期: | 2005-07-10 |
实施日期: | 2006-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 国家发展和改革委员会 |
提出单位: | 中国石油和化学工业协会 |
归口单位: | 中国石油和化学工业协会 |
起草单位: | 中国天辰化学工程公司 |
起草人: | 沈鹏飞、孙铁成、任杰 |
出版社: | 化工出版社 |
出版日期: | 2006-01-01 |
页数: | 38页 |
适用范围
本标准规定了碳素钢和低合金钢制水平吊盖带颈对焊法兰人孔的型式、基本参数、尺寸、技术要求和有关使用规定。
本标准适用于公称压力PN2.5-6.3MPa、工作温度及其相应的最高无冲击工作压力根据材料类别限定在表3-2规定范围内的水平吊盖带颈对焊法兰人孔。
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类: 化工 化工机械与设备 化工机械与设备零部件 医药卫生技术 制药学 有关制药学的其他标准